晶圆筛选测试-上海利记网站半导体有限公司

利记网站半导体工程中心提供基于高精准度射频参数自动校准以及状态监测的化合物射频芯片晶圆级测试筛选服务。基于自动探针台以及精密射频源表实现晶圆级多射频参数表征，在对数据进行可靠存储的同时，通过指向性的MAP文件管理实现晶圆数据追溯，并通过专业的数据软件实现晶圆数据可视化以及分指标的统计分析业务。

EFA具有直流参数及射频参数测试能力，以供失效分析及芯片工艺性能表征。

EFA实验室配有网络分析仪、半导体参数分析仪、频谱仪、直流电源、脉冲电源等各类直流参数及射频参数测试设备，具备直流参数、散射参数、谐波失真、交调参数、开关参数、功率负载牵引测试和噪声参数等测试能力。
通过各类电学性能测试的结果，完成芯片性能表征，为后续失效分析提供逻辑证据。

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EFA具有直流参数及射频参数测试能力，以供失效分析及芯片工艺性能表征。

EFA实验室配有网络分析仪、半导体参数分析仪、频谱仪、直流电源、脉冲电源等各类直流参数及射频参数测试设备，具备直流参数、散射参数、谐波失真、交调参数、开关参数、功率负载牵引测试和噪声参数等测试能力。
通过各类电学性能测试的结果，完成芯片性能表征，为后续失效分析提供逻辑证据。

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